某些材料如層壓材料在表面層和內(nèi)部可能有很不同的電阻率，因此測量清潔的表面的內(nèi)在性能是有意義的，應(yīng)完整地規(guī)定為獲得一致的結(jié)果前進(jìn)行清潔處理的程序，并要記錄清潔過程中溶劑或其他因素對于表面特性可能產(chǎn)生的影響.

電極 elesctrodes固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗方法
在絕緣材料的表面層里的直流電場強(qiáng)度與線電流密度之配，即單位面積內(nèi)的表面電阻。面積的大小是不重要的。

注1∶除幸另有規(guī)定.表面電延是在電化一分鐘后測定。
CB/T 1410-2006/IEC63,130
規(guī)范性引用文華
本標(biāo)準(zhǔn)等同采用 IEC 6003，198《因體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗方法》（英文版）。
下列定義適用于本標(biāo)準(zhǔn)。
注2;通常電流主要流過試樣的一個表面層，但也包據(jù)流過以樣體積內(nèi)的或分。表面電阻率 surface resistivity
下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改（不包括勤誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn)，然而，鼓勵根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的新版本。凡是不注日期的引用文件，其新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。GB/T10064-206 測定圖體絕緣材料絕緣電阻的試驗方法（IC 60167，1964.IDT）GB/T 10580-2003 固體絕緣材料在試驗前和試驗時采用的標(biāo)準(zhǔn)條件（IEC 0212;1971，IDT）IEC 60260196s 非注人式恒定相對濕度的試驗箱3 定義
表面電阻.特別是當(dāng)它較高時，常以不規(guī)則方式變化.且通常非常依賴于電化時間。園此，測量時通常規(guī)定一分鐘的電化時間，
在試樣的其表面上的兩電極間所加電壓與在堤定的電化時間里流過兩電極問的電流之商.在兩電極上可能形或的極化忽略不計。
固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗方法Methods of test for volume resistivly and surface resistivity of solid electrical insulating materials (IEC 60931980,IDT)
電極是具有一定形狀、尺寸和結(jié)構(gòu)的與被測試樣相接觸的導(dǎo)體。
注，絕緣電距是加在與試樣相接觸的兩電段之間約直流電壓與通過所電極的總電輿之育.地緣電細(xì)取決于以樣的
4.3 當(dāng)一直流電壓加在與試樣相接觸的兩電極之間時.通過試樣的電會漸近地減小舅一個穩(wěn)定值. 電流隨時間的減小可能是由于電介質(zhì)授化和可動離子位移到電極所致。對干體積電思率小于10"Ω·m的材料.其穩(wěn)定狀態(tài)通常在一分鐘內(nèi)達(dá)到.因此.經(jīng)過這個電化時間后測定電阻。對于體積電阻率較高的材料，電流減小的過程可能會持續(xù)到幾分鐘、幾小時、幾天甚至幾星期。因此對于這樣的材料，采用較長的電化時間，且如果合適，可用體積電阻率與時間的關(guān)系來描述材料的特性。4.4 由于或多或少的體積電導(dǎo)總是要被包括到表面電導(dǎo)測試中去，因此不能精確面只能近似地測量表面電阻或表面電導(dǎo)。測得的值主要反映被測試樣表面污染的特性。而且試樣的電容率影響污染物質(zhì)的面是材料表面含有污染物質(zhì)時與材料特性有關(guān)的一個參數(shù)。
體積電阻和表面電阻的試驗都受到下列因素影響∶施加電壓的大小和時間，電極的性質(zhì)和尺寸;在
在試樣兩相對表面上敢置的兩電極間所加直流電壓與流過這兩個電極之間的穩(wěn)態(tài)電流之商，不包括沿試樣表面的電流，在兩電極上可能形成的極化忽略不計。
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率的試驗方法。這些試驗方法包括對固體絕緣材料體積電阻和表面電阻的測定程序及體積電阻率和表面電阻率的計算方法。
4.1 通常，絕緣材料用于將電氣系統(tǒng)的各部件相互絕緣和對地絕緣;固體絕緣材料還起機(jī)械支撐作用. 對于這些用途，一般都希望材料具有盡可能高的絕緣電阻，有均勻一致的，得到認(rèn)可的機(jī)械，化學(xué)和酣熟性能，表函電阻隨濕度變化很快，而體積電阻隨溫度變化卻租慢，盡管其終的變化也許較大。4.2 體積電阻率能被用作選擇特定用途絕緣材料的一個參數(shù)，電阻率隨溫度和醒度的變化面顯著受化，因此在為一些運(yùn)行條件而設(shè)計時必須對其了解，體積電阻率的測量需被用于檢查絕緣材料生產(chǎn)是否始終如一或檢測能影響材料質(zhì)量而又不能用其他方法檢測到的導(dǎo)電雜質(zhì)。
本標(biāo)準(zhǔn)由全國絕緣材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口.
注，表面電黑率納S率位是Ω.實際上有時也用愛每平方摩位"*表示.
本標(biāo)準(zhǔn)與GB/T1410-1989相比主要變化如下;a）增加了"規(guī)范性引用文伴"一章（本標(biāo)準(zhǔn)的第2章）;b）增加了試驗電壓范圍（本標(biāo)準(zhǔn)的第5章）;c）試驗結(jié)果以"中值"代替"幾何平均值"。

3.5
注∶賺非另有復(fù)定.體積電阻是在電化一分W后闡定. 3.2
體積電阻 volume relstance
本標(biāo)準(zhǔn)代替GB/T1410—19《因體絕緣材料體積電阻率和表醫(yī)電組率試驗方法）. 本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A、附錄B、附錄C均為資料性附錄。本標(biāo)準(zhǔn)曲中國電器工業(yè)協(xié)會提出。
體積電歸率 voume reitivity
表面電題 surfaet rlstance
本標(biāo)準(zhǔn)起草單位∶桂林電器科學(xué)研究所。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人∶王先鋒、谷曉圈. 本標(biāo)準(zhǔn)所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次履本發(fā)布情況為;———GB/T1410—1978;——GB/T1410-1989,
在絕緣材料里面的直流電場強(qiáng)度和穩(wěn)態(tài)電蓬密度之商，即單位體積內(nèi)的體積電照。注∶體積電阻率的S單位是Ω·nm。實際上也使用Q·cm這一單位。
為便于使用，本標(biāo)準(zhǔn)做了下列編輯性修改a）刪除國際標(biāo)準(zhǔn)的目次和前言∶b）用小數(shù)點'.'代帶作為小數(shù)點的逗號，'∶c）用"p."代替"P"，"A."代替"8";d）圖接GB/T1.1-200標(biāo)注。
表面電阻和體積電阻（見 GB/T 10064-2006）。