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MultiMode8顯微鏡

簡要描述:MultiMode8顯微鏡可以對材料納米尺度的力學(xué)性質(zhì)進(jìn)行定量檢測,在正常的掃描速率下獲得高分辨率的材料粘附力和彈性模量圖像。與傳統(tǒng)的相位成像和某些廠家的多頻技術(shù)不同的是,使用PeakforceQNM模式可獲得、定量的實(shí)驗數(shù)據(jù)。

  • 產(chǎn)品型號:
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時間:2024-09-18
  • 訪  問  量:1093
詳細(xì)介紹
品牌其他品牌產(chǎn)地類別進(jìn)口
應(yīng)用領(lǐng)域化工,生物產(chǎn)業(yè),建材,制藥,綜合

MultiMode8顯微鏡

應(yīng)用靈活性

·  高分辨率成像和定量的材料性能成像。

·  提供多模塊功能的MultiMode

·  發(fā)表論文AFM

·  峰值力模式實(shí)現(xiàn)

MultiMode8顯微鏡

定量成像模式
·  Bruker的新型成像模式PeakForce QNM,可以對材料納米尺度的力學(xué)性質(zhì)進(jìn)行定量檢測,在正常的掃描速率下獲得高分辨率的材料粘附力和彈性模量圖像。與傳統(tǒng)的相位成像和某些廠家的多頻技術(shù)不同的是,使用PeakforceQNM模式可獲得、定量的實(shí)驗數(shù)據(jù)。
·  PeakForce TUNA模塊,能夠定量測量樣品的導(dǎo)電特性,這是傳統(tǒng)的導(dǎo)電模式所不能實(shí)現(xiàn)的。
·  推出ScanAsyst-HR, 可以在MultiMode8上實(shí)現(xiàn)快速掃描模式。與傳統(tǒng)的AFM相比,在其速度高6倍時仍不損失圖像分辨率,獲得分辨的AFM圖像。掃描速度,可比傳統(tǒng)的AFM高20倍。
具有高的分辨率和測試性能
·  迄今為止,利用MultiMode系列原子力顯微鏡,已發(fā)表大量高水平論文,幫助科學(xué)家們解決了
·  諸多重大前沿科研問題。MultiMode8采用結(jié)構(gòu)緊湊的剛性設(shè)計,即使樣品的測試難度大,測試條件苛刻,也能實(shí)現(xiàn)低系統(tǒng)噪音,獲得分辨率的圖像。
·  NanoScope®V控制器提供業(yè)界系統(tǒng)噪音和帶寬,大大高了數(shù)據(jù)分析能力,適用于更多的研究領(lǐng)域。
·  Bruker的Peak Force Tapping® 技術(shù),控制針尖與樣品的作用力,可遠(yuǎn)低于TappingMode所需要的力。
適用于多研究領(lǐng)域
·  大氣或者溶液環(huán)境中,MultiMode8能夠完成樣品檢測,以其分辨率和功能,被廣泛應(yīng)用于物理、化學(xué)、材料、電子以及生命科學(xué)等各個領(lǐng)域。
·  在MultiMode8上可選配溫度調(diào)節(jié)和環(huán)境控制附件。加熱到250°C,冷卻至-35°C,或在水蒸氣和氧氣含量小于1ppm的手套箱中,都可以實(shí)現(xiàn)敏感樣品的檢測和成像。
·  MultiMode8基本操作模式的基礎(chǔ)上選配不同功能的附件,可在高分辨成像的同時,獲得樣品的力學(xué)、電學(xué)、磁學(xué)、熱力學(xué)等各項性能指標(biāo)

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